单片机原理与应用实验教程

1 (p1): 第1章 集成开发环境Keil μVision2及Proteus仿真软件使用指南
1 (p1-1): 1.1 集成开发环境Keil μVision2应用指南
25 (p1-2): 1.2 系统仿真软件Proteus应用指南
54 (p2): 第2章 软件实验
54 (p2-1): 2.1 汇编程序实验1
57 (p2-2): 2.2 汇编程序实验2
60 (p2-3): 2.3 C语言程序实验
62 (p2-4): 2.4 C语言与汇编语言混合编程实验
66 (p3): 第3章 Proteus系统仿真实验
66 (p3-1): 3.1 基本并行I/O口实验
71 (p3-2): 3.2 扩展并行I/O口实验
77 (p3-3): 3.3 静态LED显示实验
84 (p3-4): 3.4 矩阵键盘扫描实验
96 (p3-5): 3.5 定时／计数器实验
104 (p3-6): 3.6 串口通信实验
114 (p3-7): 3.7 LCD 1602显示实验
130 (p3-8): 3.8 ADC0808/9信号采集实验
144 (p3-9): 3.9 DAC0832应用实验
158 (p3-10): 3.10 I2C扩展实验
180 (p3-11): 3.11 SPI扩展实验
190 (p3-12): 3.12 LCD 12864显示实验
205 (p4): 第4章 硬件接口实验
205 (p4-1): 4.1 按键声光报警实验
208 (p4-2): 4.2 74LS373并口扩展实验
211 (p4-3): 4.3 74LS165并／串行I/O口转换实验
215 (p4-4): 4.4 74LS164串／并行I/O口转换实验
218 (p4-5): 4.5 8255并行I/O扩展及交通信号灯控制实验
222 (p4-6): 4.6 8255动态LED显示实验
225 (p4-7): 4.7 7279键盘扫描及动态LED显示实验
230 (p4-8): 4.8 7279键盘扫描及LCD 1602显示实验
234 (p4-9): 4.9 LCD 12864显示实验
236 (p4-10): 4.10 16×16 LED点阵显示实验
243 (p4-11): 4.11 ADC0809并行接口A/D转换实验
247 (p4-12): 4.12 DAC0832并行接口D/A转换实验
252 (p4-13): 4.13 DS12887并行接口RTC实验
258 (p4-14): 4.14 I2C串行E2PROM 24C02读写实验
263 (p4-15): 4.15 I2C接口芯片PCF8574扩展并口实验
266 (p4-16): 4.16 I2C接口芯片PCF8563扩展RTC实验
271 (p4-17): 4.17 I2C接口芯片AD7810扩展A/D实验
275 (p4-18): 4.18 I2C接口芯片TLC5615扩展D/A实验
280 (p4-19): 4.19 DS18B20温度测量实验
284 (p4-20): 4.20 DHT11温湿度测量实验
289 (p4-21): 4.21 红外对管障碍物检测实验
293 (p4-22): 4.22 红外热释电实验
296 (p4-23): 4.23 超声波测距实验
301 (p4-24): 4.24 步进电机驱动实验
304 (p4-25): 4.25 直流电机驱动及转速测量实验
307 (p4-26): 4.26 电机PWM调速实验
312 (p5): 第5章 系统综合实验
312 (p5-1): 5.1 单片机应用系统设计流程简介
317 (p5-2): 5.2 电梯控制系统实验
318 (p5-3): 5.3 程控函数发生器系统实验
319 (p5-4): 5.4 自动国旗升降系统实验
320 (p5-5): 5.5 自动远程抄表系统实验
321 (p6): 参考文献