募捐 9月15日2024 – 10月1日2024 关于筹款

Современные методы исследования поверхности

Main
Современные методы исследования...

Современные методы исследования поверхности

Вудраф Д., Делчар Т. (Woodruff D.P., Delchar T.A.)

0 / 0

你有多喜欢这本书？

下载文件的质量如何？

下载该书，以评价其质量

下载文件的质量如何？

年:

1989

出版社:

Мир

语言:

russian

页:

568

ISBN 10:

5030011293

ISBN 13:

9785030011295

文件:

DJVU, 5.37 MB

IPFS:

,

russian, 1989

线上阅读

正在转换

转换为失败

您可能会感兴趣

Друкарев Г.Ф. — Столкновения электронов с атомами и молекулами

Фирмэнс Л. (ред) — Электронная и ионная спектроскопия твердых тел.

де Бур Ж. — Электронная эмиссия и явления адсорбции

Николичев Д. Е., Боряков А. В., Суродин С. И., Крюков Р. Н. — Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС: Учебно-методическое пособие

Николичев Д. Е., Боряков А. В., Суродин С. И. — Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Учебное пособие

— Сборник. Вопросы теории плазмы

Бенуэлл К. — Основы молекулярной спектроскопии

Иванов В.Е., Козелов Б.В. — Прохождение электронных и протонно-водородных пучков в атмосфере Земли

Крапивина С.А. — Основы плазмохимии. Выпуск I

Добрецов Л.Н., Гомоюнова М.В. — Эмиссионная электроника

Кунц К. (ред) — Синхротронное излучение. Свойства и применения

Фортов В.Е. (ред.) — Энциклопедия низкотемпературной плазмы

Месси Г., Бархоп Е. — Электронные и ионные столкновения

Фирмэнс Л., Вэнник Дж., Декейсер В. — Электронная и ионная спектроскопия твердых тел

Быков А.В. — Физические методы исследования

Аверина А.П., Лоскутов А.И. — Вакуумные аналитические приборы и оборудование

Воробьев, А.А., Кононов, Б.А. — Прохождение электронов через вещество

Свиридов Д.В. — Физические методы исследования в химии

Раджабов Е.А. — Спектроскопия атомов и молекул в конденсированных средах

Борисов С.Ф. — Физические методы исследования атомных и наномасштабных объектов

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. — Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

Парилис Э.С. — Эффект Оже

Петров А.А. — Электронная и ионная спектроскопия материалов и структур микро - и оптоэлектроники

Кузнецов М.В. — Современные методы исследования поверхности твердых тел: Фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия

коллектив авторов — Методы и приборы для анализа электронных компонентов в микро - и наномасштабе

Вовна В.И. — Основы метода газофазной фотоэлектронной спектроскопии

Леонтович М.А., Кадомцев Б.Б. (ред.) — Вопросы теории плазмы

Зандерна А. (ред.) — Методы анализа поверхностей

Борисов С.Ф. — Межфазная граница газ-твердое тело

Добрецов Леонтий Николаевич и Гомоюнова Марина Владимировна — Эмиссионная электроника

Добрецов Леонтий Николаевич и Гомоюнова Марина Владимировна — Эмиссионная электроника

Кунц К., и др. (ред.)(Kunz C.) — Синхротронное излучение: Свойства и применения

Максимов Г.А., Николичев Д.Е., Канышина М.В. — Определение концентрации Ge в эпитаксиальных пленках SixGe1-x/Si методом Оже-спектроскопии: Описание лабораторной работы

Мазалов Л.Н. — Рентгеноэлектронная спектроскопия и ее применение в химии

Еловиков С.С. — Разрушение поверхности твердого тела медленными электронами

关键词

поверхности

электронов

рассеяния

спектроскопии

состояния

состояний

энергией

десорбции

структуры

поверхность

ионизации

электронной

рассеяние

зависимости

различных

приводит

интенсивности

молекулы

адсорбции

спектроскопия

электроны

относительно

электрона

потенциала

твердого

вследствие

подложки

результаты

потенциал